奥林巴斯在线XRF元素分析仪
产品分类:奥林巴斯光谱仪
奥林巴斯VantaiX在线X射线荧光(XRF)分析仪通过对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别,让用户对自己的产品充满信心;对于采用工业4 0方案并对生产过程实施全天时、全天候(24 7)控制以采用通过 失败分析方式验证合金的企业来说,可以使用Vanta iX分析仪对制造过程中的棒材、坯材、管材,以及机械加工零件和定制部件进行材料验证和批次 炉号控制
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Vanta iX在线XRF分析仪可以对材料进行自动分析
保持生产过程高速运行
奥林巴斯Vanta iX在线X射线荧光(XRF)分析仪通过对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别,让用户对自己的产品充满信心。
进行实时过程监控和100%无遗漏检测,并提供即时结果
全天时、全天候(24/7)运行
经过配置,可提供通过/失败结果、准确的合金牌号,以及材料的化学成分信息
在管材、棒材和坯材等金属制造过程中对产品进行100%无遗漏检测
对于采用工业4.0方案并对生产过程实施全天时、全天候(24/7)控制以采用通过/失败分析方式验证合金的企业来说,可以使用Vanta iX分析仪对制造过程中的棒材、坯材、管材,以及机械加工零件和定制部件进行材料验证和批次/炉号控制。使用Vanta iX分析仪对产品进行自动化检测增加了成品的竞争优势,因为可以借此证明材料经过了100%的检测和验证。
通过扫查和监控,完成采矿业中的矿石品位控制
在地质选矿和采矿方面,Vanta iX分析仪可以对岩芯进行扫查,对传送带上的矿石进行分析,并提供实时结果,以监控选矿和采矿过程中发生的变化,并确保矿石品位的一致性。在对传送带上的矿石进行分析的过程中,分析仪可以为精矿提供配矿验证和选矿验证。
通过快速准确的元素分析,完成连续的质量控制
与所有Vanta电子产品一样,Vanta iX分析仪不仅运行速度快,还可以提供可靠、可执行的结果,从而可指导关键性决策的制定。
高分辨率:辨别多种合金牌号,包括轻元素和重元素
快速提供准确的结果:分析仪的电子元件具有可提供高检测通量,稳定性强,及高计数率等特性
高效率:配备了硅漂移探测器(SDD),并采用了广受好评的Axon技术(所有Vanta分析仪都采用了这种技术)
易于集成到多种生产系统中
Vanta iX分析仪用途广泛,结构紧凑,易于安装:使用其两侧的安装孔就可将其安装到机器人或其他系统上。没有外部控制箱,因此可以通过Vanta Connect API(应用程序编程接口),或者通过PLC(可编程逻辑控制器)和离散导线轻松控制分析仪。
接口选项:
以太网(RJ-45),可启用以太网供电
USB
离散I/O(16针)
辅助DC电源
坚固耐用,可在制造环境中长时间正常运行
Vanta iX分析仪可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音,并具有防尘和防潮的特性,从而可提高检测的可靠性,增加正常运行时间。
振动测试(MIL-STD)
符合IP54评级标准
可以在–10 °C至50 °C的温度范围内连续工作
内置散热器可以降低分析仪内部的温度,如果需要进一步冷却,还可以通过风扇连接点连接一个风扇。无需使用工具,就可以更换分析仪的窗口,从而实现快速维护的目标。
Vanta iX分析仪的技术规格
外型尺寸(宽 × 高 × 厚) | 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm |
---|---|
重量 | 2.4公斤 |
激励源 | X射线管:铑或钨阳极靶材(应用优化),5 ~ 200 µA MR型号:8 ~ 50 keV(4 W最大) CW型号:8 ~ 40 keV(4 W最大) |
主光束滤光片 | 8种滤光片位置,根据选择的光束和方式自动匹配。 |
探测器 | MR型号:大区域硅漂移探测器 CW型号:标准硅漂移探测器 |
电源 | 通过以太网(PoE+)或者18 V AC电源适配器供电 |
可检测元素范围 | 取决于方式: MR型号:从镁(Mg)到铀(U)的元素 CW型号:从钛(Ti)到铀(U)的元素(使用标准窗口并经过校准) |
压力校正 | 内置气压计,用于海拔和空气压力的自动校正 |
IP评级 | IP54 |
操作环境 | 温度范围:−10 °C ~ 50 °C,可连续工作 湿度:相对湿度为10 % ~ 90 %,无冷凝 |
操作系统 | Linux |
应用软件 | 奥林巴斯专有的数据采集和处理软件包 |
lympus在线型XRF Vanta iX针对金属合金与牌号全检分析,可以连续7天24小时不间断于生产过程中分析,百分百(100%)验证各个合金的浓度,以及金属牌号是否正确,藉此判断生产过程材料误用的状况。此外设备可从镁(Mg)到铀(U)中任何元素进行在线元素分析(In-Line XRF),对于贵金属中金(Au)、银(Ag)、白金(Pt)、钯(Pd)、铑(Rh)、铱(Ir)、钌(Ru)、锇(Os) 之八大贵金属元素,以及材料镀层中,各别镀层元素的厚度为何,皆可透过仪器数据记录和警示功能,快速提供精确的元素辨别信息、监控,以及化学成份。
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